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摘要: 薄膜辐射热探测器是一种结构简单,灵敏度高,响应快速的辐射热测量元件,特别适用于短时间超声速设备中的辐射测量,也可以在辐射能的标定中使用。这种探测器是在通常薄膜电阻温度计的表面上覆盖一层碳黑类物质,以增加它的吸收率和扩大吸收谱的宽度,且减少吸收率随波长的变化。
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引用本文: | 竺乃宜 李红德 邹惠良 崔季平 李连祥 高俊杰 张瑞智 董向红 张敏 黄文国. 薄膜辐射热探测器[J]. 力学学报, 1978, 14(3): 230-233. doi: 10.6052/0459-1879-1978-3-1978-030 |